M6 JETSTREAM特色应用领域:
文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。
地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。
故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。
M6 JETSTREAM用于文物样品检测
主要特点：
1.M6 JETSTREAM不仅可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有最佳的能量分辨率。
5.特别的安全电路为用户提供最佳的X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。